Félix Informatique sera présent au CIM 2019

Publié le dans Evénements
Félix Informatique participe au CIM 2019
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Félix Informatique participe au Congrès International de Métrologie (CIM 2019) qui se déroulera du 24 au 26 Septembre 2019 à Paris, Porte de Versailles.

Venez nous rencontrer sur notre stand H35 – Hall 4 et découvrir nos solutions pour la métrologie et l’industrie.

Le CIM 2019 se déroulera dans le cadre du salon Measurement World, la première exposition en Europe dédiée à la Mesure au sens large.

Vous pouvez nous signaler votre visite afin que nous puissions vous accueillir dans les meilleures conditions.

Plus d’informations sur le salon en suivant ce lien : http://www.cfmetrologie.com/fr/evenements/congres-international-de-la-metrologie-cim

Nous poursuivons notre travail aux côtés du Collège Français de Métrologie

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Félix Informatique est adhérent du Collège Français de Métrologie 2019
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Félix Informatique renouvelle son adhésion au Collège Français de Métrologie en 2019. Le travail effectué depuis plusieurs années avec le CFM permet à nos solutions, et en particulier Deca, de rester techniquement à la pointe de la métrologie.
Il nous permet d’analyser, au plus tôt, les nouvelles méthodes de calculs (incertitudes, Opperet, capabilités…), de comprendre les problématiques d’aujourd’hui et de demain pour le métrologue afin de l’accompagner au plus près de ses besoins avec nos logiciels, et d’enrichir nos solutions de l’expérience de grands groupes industriels.
Ce partenariat permet donc à nos équipes de consolider les acquis techniques du logiciel et de prévoir les évolutions futures via une veille technologique et réglementaire active.

Atelier Métrologie : les clés d’une gestion réussie

Publié le dans Evénements
actualité atelier métrologie aeriades félix informatique 2019
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En tant que membre du réseau Aériades, Félix Informatique organise un atelier dédié à la métrologie sur le thème « les clés d’une gestion réussie de la métrologie » le 28 Mars prochain.

L’atelier s’articulera autour de trois parties :

  • Démarche pour un changement réussi de son système de gestion d’un parc d’équipements de Contrôle, de Mesure et d’Essai (ECME)
  • La gestion technique et administrative d’un parc d’instrument de mesure
  • La méthode OPPERET pour Optimisation des Périodicité d’étalonnage (FDX 07-014)

Pour en savoir plus ou vous inscrire, consultez le programme complet de la journée.